РАНФГУ ФНЦ НИИСИ РАН

Отделение микротехнологий

Заведующий отделением: Цимбалов Андрей Сергеевич

Отделение микротехнологий (ОМТ) образовано в 1996 году для создания на базе НИИСИ РАН технологического комплекса (мини-фабрики) для разработки современных технологических процессов изготовления высокосложных микросхем, их конструктивно-технологических решений и мелкосерийного производства.

Численность отделения - более 200 сотрудников. В состав ОМТ входят следующие структурные подразделения:

  • отдел автоматизированного управления производственным процессом,
  • отдел технологического оборудования,
  • отдел управления качеством,
  • испытательная лаборатория,
  • научно-производственный отдел,
  • отдел разработки технологических процессов,
  • отдел проектирования интегральных микросхем и структур.

Основными задачами ОМТ являются:

  • разработка индивидуальных и базовых технологических процессов обработки кремниевых пластин и изготовления микросхем с субмикронными размерами элементов, в том числе, радиационно-стойких и экcплуатируемых при высоких температурах окружающей среды, разработка правил проектирования и библиотек стандартных элементов;
  • проектирование, изготовление, исследования и испытания макетов и опытных образцов микроэлектронных изделий;
  • изготовление мелкосерийной продукции (пластин с кристаллами микросхем, интегральных микросхем и многокристальных модулей), в том числе, проведение сборочных операций и отбраковочных испытаний;
  • проведение испытаний в рамках проведения НИОКР и изготовления серийной продукции, а также проведение испытаний по заявкам сторонних организаций;
  • совершенствование мини-фабрики НИИСИ РАН и поддержание ее в работоспособном состоянии.

В настоящее время в ОМТ на базе мини-фабрики НИИСИ РАН ведется серийное изготовление микропроцессоров, микроконтроллеров, микросхем памяти и пластин с кристаллами заказанных элементов (микросхем).

ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН | Новости | Руководство | Администрация | Структура
Мини-фабрика | Публикации | Разработка СБИС | Услуги | Контакты

Copyright ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН © 2018